變頻抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀工作原理

     變頻抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀測(cè)量線路包括一路標(biāo)準(zhǔn)回路和一路被測(cè)回路,如圖3所示。標(biāo)準(zhǔn)回路由內(nèi)置高穩(wěn)定度的標(biāo)準(zhǔn)電容器與采樣電路組成，被試回路由被試品和采樣電路組成。由單片機(jī)運(yùn)用計(jì)算機(jī)數(shù)字化實(shí)時(shí)采集方法，對(duì)數(shù)以萬計(jì)的采樣數(shù)據(jù)處理后進(jìn)行矢量運(yùn)算，分別測(cè)得標(biāo)準(zhǔn)回路電流與被試回路電流幅值及其相位關(guān)系，并由之算出試品的電容值（Cx）和介質(zhì)損耗角正切（tgδ），測(cè)量結(jié)果可靠。現(xiàn)場(chǎng)有干擾時(shí)，先利用移相、倒相法減小干擾的影響，再將被試回路測(cè)得的電流Ix’與單獨(dú)測(cè)得的干擾電流Id矢量相加，得到真正的測(cè)量電流Ix，進(jìn)而得出正確的測(cè)量結(jié)果。可根據(jù)不同的測(cè)量對(duì)象和測(cè)量需要，靈活地采用多種接線方式。如測(cè)量非接地試品（正接法）時(shí)，“Lv”（E）點(diǎn)接地；而測(cè)量接地試品（反接法）時(shí)，則“Hv”點(diǎn)接地。